Микроскоп металлографический инспекционный ЛабоМет – Инспект 1

Инспекционный микроскоп ЛабоМет-Инспект вариант 1 является рабочей моделью металлографического прямого микроскопа, предназначенного для применения в различных областях науки, техники и жизнедеятельности: металлургическая, электронная и полупроводниковая промышленности, металлография, петрография, минералогия, геология, криминалистика и др.

Специализированной сферой использование этого микроскопа является контроль изделий микроэлектроники в процессе их изготовления. Исследование проводится при прямом освещении в отражённом свете в светлом поле.

Description

Микроскоп металлографический инспекционный ЛабоМет – Инспект 1

микроскоп металлографический инспекционный ЛабоМет - Инспект 1

Инспекционный микроскоп ЛабоМет-Инспект вариант 1 является рабочей моделью металлографического прямого микроскопа, предназначенного для применения в различных областях науки, техники и жизнедеятельности: металлургическая, электронная и полупроводниковая промышленности, металлография, петрография, минералогия, геология, криминалистика и др.

Специализированной сферой использование этого микроскопа является контроль изделий микроэлектроники в процессе их изготовления. Исследование проводится при прямом освещении в отражённом свете в светлом поле.

Заявка на приобретение Рассчитать стоимость

Предусмотрена возможность расширения технических характеристик микроскопа за счет свободной комплектации узлами и принадлежностями, такими, как объективы, окуляры, визуальные насадки, устройства контрастирования, светофильтры и др.

  • Характеристики
  • Дополнительное оборудование
  • Устройства на базе микроскопа
  • Программное обеспечение
  • Технические характеристики
    Система Конечная оптическая длина тубуса
    Диапазон возможных увеличений на микроскопе стандартная комплектация оригинальная комплектация
    40 – 800x 12,5 – 2000x
    Насадка Тринокулярная с наклоном 45°, правый окулярный тубус снабжен диоптрийным механизмом перемещения окуляра в пределах ±5 диоптрий, возможность изменения межзрачкового расстояния в пределах 55 – 75 мм
    Объективыстандарта DIN
    (высота 45 мм)
    ЭпиПланахроматы светлого поля: 4x/0.10, 10x/0.25, 20x/0,40 40x/0,65
    Окуляры 10/18 парные центрированные
    Методы освещения и исследования на микроскопе Отражённый свет. Метод освещения по Кёлеру. Светлое поле
    Револьверное устройство Для четырёх объективов
    Механизм фокусировки Коаксиальный, позволяет проводить раздельно грубую и тонкую фокусировки. Цена деления шкалы тонкой фокусировки – 0,002 мм. Имеется возможность регулировки тугости хода и ограничения вертикального перемещения предметного столика при грубой фокусировке.
    Максимальная высота объекта до 15 мм
    Предметный столик

    Двухкоординатный предметный столик. Размеры предметного столика 250×300 мм. Пределы перемещения объекта 150×150мм

    Источник питания Сеть переменного тока напряжением 220 ± 22 В, частотой 50 Гц. Выносной блок питания.
    Источники света Галогенная лампа 6 В, 30 Вт
    Габаритные размеры 400 x 330 x 370
    Масса Не более 11 кг
    • Визуальные насадки (доступна насадка бинокулярная)
    • Объективы (доступны объективы 2,5х, 100х)
    • Окуляры (доступны окуляры 5х/16, 10х/20, 12,5х/14, 20х/10)
    • Окуляр – цифровая камера (доступны камеры 1.3Мп, 3Мп, 5Мп, 8Мп, 10Мп)
    • Цифровой ф/а (не менее 10Мп) со специальным адаптером
    • Набор измерительный (окуляр с измерительной шкалой + объект-микрометр)
    • Набор поляризационных устройств в оправах
    • Устройство наблюдения зрачков
    • Адаптер для камеры C-mount
    • Цифровой микроскоп комплектация 1 (микроскоп + окуляр – цифровая камера + ПО)
    • Цифровой микроскоп комплектация 2 (микроскоп + цифровой ф/а + ПО)
    • Микроскопный комплекс (цифровой микроскоп + ПК стационарный или “ноутбук”)
    • Анализатор микроизображений (автоматизированный микроскопный комплекс + оригинальное ПО анализа изображений, морфология, распознавание образов и др.)
    • Специализированное ПО ImageView (русифицированное)
    • Специализированное ПО Сиамс (на русском языке)
    • Специализированное ПО Микроанализ (на русском языке)

    Additional information

    Бренд