сканирующие микроскопы

  • TESCAN CLARA Быстрый просмотр
    • TESCAN CLARA Быстрый просмотр

    • TESCAN CLARA

    • TESCAN CLARA – сканирующий электронный микроскоп (СЭМ), позволяющий получать высококачественные изображения и проводить микроанализ, что является весьма актуальным в различных областях исследований и технологий. В СЭМ TESCAN CLARA используется технология TESCAN BrightBeam™, при которой объективная линза сочетает в себе магнитную и электростатическую линзы, что позволяет получать изображения с ультравысоким разрешением при низких ускоряющих напряжениях и при отсутствии вокруг образца магнитных…
    • Read more
  • TESCAN MAGNA Быстрый просмотр
    • TESCAN MAGNA Быстрый просмотр

    • TESCAN MAGNA

    • TESCAN MAGNA – это мощный инструмент получения изображений с ультравысоким разрешением для наблюдений поверхностных свойств наноматериалов. Сканирующий электронный микроскоп TESCAN MAGNA оснащён электронной колонной Triglav™, комбинирующей в себе иммерсионную оптику и так называемый режим crossover-free
    • Read more
  • TESCAN MIRA Быстрый просмотр
  • TESCAN TIMA Быстрый просмотр
    • TESCAN TIMA Быстрый просмотр

    • TESCAN TIMA

    • TIMA – это автоматизированная система для проведения быстрого минералогического анализа проб горных пород, руд, концентратов, хвостов, результатов выщелачивания, разнообразных продпрограммного обеспечения EDAX Quantitative. Программное обеспечение TIMA обладает рядом уникальных функций, включая запатентованный алгоритм обработки спектров, что позволяет усовершенствовать идентификацию минералов и улучшить выявление элементов, которые содержатся в минералах в малых концентрациях.
    • Read more
  • TESCAN VEGA Быстрый просмотр
    • TESCAN VEGA Быстрый просмотр

    • TESCAN VEGA

    • TESCAN VEGA – сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) четвертого поколения с термоэмиссионным вольфрамовым катодом, позволяющий получать СЭМ-изображения и проводить анализ элементного состава в реальном времени в одном окне программного обеспечения TESCAN Essence™, что значительно упрощает получение данных как о морфологии поверхности образца, так и о его локальном элементом составе и делает СЭМ TESCAN VEGA эффективным аналитическим решением для проведения регулярного контроля…
    • Read more
  • TESCAN VEGA Compact Быстрый просмотр