-
- Измерители мощности, Электронно-измерительное оборудование
4240 РЧ измеритель мощности
- Серия 4240 непрерывных ВЧ-измерителей мощности обеспечивает возможность высокоскоростного измерения, необходимую в производственной среде, а также простоту эксплуатации, необходимую для настольного использования. Он обеспечивает очень точные измерения от -70 дБмВт до +44 дБмВт (в зависимости от датчика) и имеет высокую скорость обновления дисплея для приложений настройки. Легко читаемый ЖК-дисплей отображает оба канала одновременно с цифровой и гистограммной информацией.
- Read more
-
- Зондовые станции, Электронно-измерительное оборудование
EB-050 МИКРОПОЗИЦИОНЕР
- Наш микропозиционер EB-050 - самый популярный прибор для измерения DC. Разрешение 1 мкм обеспечивает стабильность измерений для большинства задач измерения IV в распространенных диапазонах размеров площадок (~50 мкм). Благодаря механизму системы с винтовым приводом, небрежное обращение пользователей с ручками исключено, что обеспечивает длительную эксплуатацию данного изделия.
- Read more
-
- Магнитометры, Электронно-измерительное оборудование
MAGNETOSCOP 1.070
- Портативный микропроцессорный магнитометр Измерение абсолютного значения поля или градиента Датчик для измерения относительной магнитной проницаемости µr в соответствии с IEC 60404-15 и ASTM A342M 3,5" цветной экран USB интерфейс передачи данных SD карта для записи и хранения данных Определение и сохранение пиковых значений Регулируемые пороги Визуальная и звуковая сигнализация Работа от сети или от элементов питания Прикладное программное обеспечение
- Read more
-
- Измерители мощности, Электронно-измерительное оборудование
PMX40 ВЧ-измеритель мощности
- PMX40 предоставляет инженерам-конструкторам и техническим специалистам удобство традиционного настольного прибора, гибкость и производительность современных USB-датчиков мощности, а также простоту мультисенсорного дисплея, созданного с использованием отмеченной наградами технологии Boonton. В качестве настольного измерителя PMX40 представляет собой автономное решение для захвата, отображения и анализа пиковой и средней мощности ВЧ как во временной, так и в статистической областях с помощью интуитивно понятного мультисенсорного…
- Read more
-
- Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
TESCAN AMBER
- TESCAN AMBER разработан с акцентом на универсальность. Микроскоп позволяет определять параметры образцов на наноуровне, а также выполнять лабораторную модификацию материалов с помощью сфокусированного ионного пучка FIB (Focused Ion Beam). Совместное использование неиммерсионного СЭМ с ультравысоким разрешением и современного FIB Ga+ делает TESCAN AMBER удобным инструментом для подготовки образцов с микронной точностью и определения характеристик материалов на высоком уровне.
- Read more
-
- Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
TESCAN AMBER X
- TESCAN AMBER X – аналитический двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп с плазменной пушкой в качестве источника ионов и неиммерсионной электронной колонной с ультравысоким разрешением, разработанный для исследований образцов, при работе с которыми возникают затруднения у традиционных FIB-SEM с жидкометаллическим источником ионов Ga+ и SEM с катодом Шоттки.
- Read more
-
- Сканирующие электронные микроскопы
TESCAN CLARA
- TESCAN CLARA – сканирующий электронный микроскоп (СЭМ), позволяющий получать высококачественные изображения и проводить микроанализ, что является весьма актуальным в различных областях исследований и технологий. В СЭМ TESCAN CLARA используется технология TESCAN BrightBeam™, при которой объективная линза сочетает в себе магнитную и электростатическую линзы, что позволяет получать изображения с ультравысоким разрешением при низких ускоряющих напряжениях и при отсутствии вокруг образца магнитных…
- Read more
-
- Сканирующие электронные микроскопы
TESCAN MAGNA
- TESCAN MAGNA – это мощный инструмент получения изображений с ультравысоким разрешением для наблюдений поверхностных свойств наноматериалов. Сканирующий электронный микроскоп TESCAN MAGNA оснащён электронной колонной Triglav™, комбинирующей в себе иммерсионную оптику и так называемый режим crossover-free
- Read more
-
- Сканирующие электронные микроскопы
TESCAN MIRA
- TESCAN MIRA – сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) четвертого поколения с катодом Шоттки, позволяющий получать СЭМ-изображения и проводить анализ элементного состава в реальном времени в одном окне программного обеспечения TESCAN Essence™
- Read more
-
- Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
TESCAN SOLARIS
- TESCAN SOLARIS – это самодостаточный инструмент FIB-SEM для изготовления наноструктур и функциональных устройств микромасштаба, разработанных в нанотехнологических дисциплинах. TESCAN SOLARIS сочетает в себе прецизионную ионную колонну и электронную колонну с ультравысоким разрешением и иммерсионной оптикой TriLens™, что позволяет выполнять лабораторную модификацию материалов с помощью сфокусированного ионного пучка FIB (Focused Ion Beam) и получать СЭМ-изображения с ультравысоким разрешением.
- Read more
-
- Двулучевые сканирующие электронные микроскопы
TESCAN SOLARIS X
- Микроскоп TESCAN SOLARIS X расширяет возможности FIB-анализа физических отказов корпусированных микроэлектромеханических и оптоэлектронных устройств благодаря мощной плазменной ионной пушке i-FIB+™ Xe, которая позволяет изготавливать кросс-секции глубокие и широкие (вплоть до ширины 1 мм). Комбинация высокопроизводительной ионной пушки i-FIB+™ Xe с современным поколением иммерсионной электронной колонны Triglav™, оснащенной трёхлинзовым объективом TriLens™, привлекательна с точки зрения не только изготовления, но и изучения…
- Read more
Products
This is where you can browse products in this store.
